达优高科 一、电性能测试包括哪些？
电性能测试包括导线电阻、绝缘电阻、介质损耗角正确值、电容等导体或绝缘品质的基本参数测试。电缆的工作电压愈高，对其电性能要求也愈严格。
（一）导电线芯直流电阻试验
每一标称截面的电缆的电阻应当不超过某一相当的数值，否则将会增加电缆在使用时线芯损耗，从而引起电缆发热，这样不但消耗料电能，加速塑料电缆的老化，而且给电缆运行的可靠性、稳定性带来危险。
现在常用的是双臂测量电桥。
（二）绝缘电阻的测试
绝缘上所加的直流电压U与泄漏电流I的比值称为绝缘电阻R.电缆的绝缘电阻主要是判断电缆绝缘层的潮湿程度和绝缘质量。
二、软件测试中的性能测试包括哪些？
性能测试 （performance testing）就是用来测试软件在集成系统中的运行性能。其目的是为了度量系统相对于预定义目标的差距。性能测试必须有工具支持，市面上有一些专门用于GUI或是web性能测试的工具，如：（Loadrunner,Silkperformance,Webload）; 性能测试收集的信息包括 ｛ cpu使用率 、io使用情况 、内存使用情况 、系统反应时间等 ｝
三、oer性能测试方法？
OER性能主要是计时电流法（CA）和计时电位法（CP）.计时电流法是给催化剂施加一个恒定的电位，然后测试它在反应条件下的电流变化；计时电位法则是设定催化反应的电流值，然后测试其电位变化情况.OER催化剂在反应条件下并不是一成不变的，有些催化剂在反应条件下会慢慢地进行自我优化。
这种优化可能是从反应条件中得到某些东西，也有可能是催化剂本身失去某些东西从而使结构变得更优
四、性能测试包括哪些方面？
写在前面：水平有限，错误和不足辛苦指出～～
压测过程中，我们除了需要关注客户端的pqs、并发量等指标外，还需要密切关注服务器资源相关的指标，例如：cpu使用率、内存使用率等，下面介绍服务器常用的性能指标，下一章节简述常用命令
1、CPU使用率
CPU使用率代表程序占用的CPU资源，CPU使用率 = 1 - CPU空闲时间/总CPU时间，在性能测试中，CPU使用率是个非常重要的指标，细分为如下指标：
- 用户态（user）：用户程序运行时间占比。当该值很高时，说明用户程序处理时间过长，需要优化代码
- 系统态（sys）：系统程序运行时间占比。当该值很高时，说明内核使用时间过长，需要排查系统是否存在频繁调度、线程进程是否频繁切换等
- IO等待态（io wait）：系统等待IO的时间占比。当该值很高时，说明程序等待IO（网络、磁盘）的时间过长，需要从程序异步，或网络方面排查
- 空闲态（idle）：空闲状态的时间占比
整体CPU使用率可以使用 1 - idle（率）来计算。在平时的压力测试中，如果用户态 + 系统态 > 50% 就应该引起关注
2、系统平均负载
系统平均负载是指在单位时间内，系统处于可运行状态和不可中断状态的平均进程数，也可理解为平均活跃进程数。
- 可运行状态进程：处于等待和正在运行的进程（注：处于等待的进程也算）
- 不可中断状态进程：处于内核流程中的进程，不可被打断，例如：IO响应等
系统平均负载，使用top，uptime等命令都会显示 load average 过去 1分钟、5分钟、15分钟的平均负载。
- load average 1 分钟 > 5分钟 > 15分钟（例如：10.00 5.00 1.00），表明系统平均负载变大
- load average 1 分钟 < 5分钟 < 15分钟（例如：1.00 5.00 10.00），表明系统平均负载变小
- load average 1分钟 5分钟 15 分钟 三个数基本相同，系统负载处于平稳的状态
如果判断系统平均负债是否过高？
- 系统平均负载和cpu个数有关，例如：系统平均负载为2，当系统2个CPU时，CPU利用率为100%；当系统1个CPU时，说明有一个进程竞争不到CPU；当系统4个CPU时，则CPU利用率为50%
- 可使用lscpu等命令查看cup个数，命令使用下个章节讲解
- 一般来说当系统平均负载高于 70% 时，就需要关注CPU使用情况了，当平均负载过高时，系统进程响应变慢，影响正常服务
系统平均负载和CPU使用率的异同
- 相同点：系统平均负载和CPU使用率都可用于评估CPU的使用情况
- 不同点：系统平均负载不仅包括正在使用CPU的进程，还包括等待CPU和等待IO的进程
- CPU密集型：平均负载和CPU使用率一致（同高同低）
- IO密集型：平均负载高，但CPU使用率不一定高（可能在等待IO）
3、内存使用率
内存相对于磁盘速度快，用于存储进程频繁使用的数据。内核在内存中划分出更高速的cached和buff区域，用于存放需要更频繁读完的文件数据和块设备信息等
内存使用往往关注如下指标
- 系统总内存：顾名思义，系统能使用的总内存的大小
- 系统已使用内存：等于 系统总内存 - 空闲内存，注：系统已使用内存包含 cached和buff区域。
- 系统内存使用率：系统已使用内存/系统总内存
如何判断系统内存使用率过高？
一般来说，系统内存使用率 大于 70%，就需要关注系统内存使用情况了，当内存使用过高，容易出现内存不足内存泄漏等问题
4、磁盘使用率
磁盘使用率也是性能中的一个重要指标，可以使用iostat命令查看磁盘使用情况，具体命令使用在下一节，iostat命令输出中有个字段util%表示周期内IO非空闲比例
如何判断系统磁盘使用率过高？
- iowait率（CPU等待IO）大于 50%，表明CPU有大量时间在等待IO
- util率 大于 70%，表明磁盘使用过于频繁
参考：
【性能测试】性能测试之性能测试指标详解（性能指标、CPU、内存、负载、磁盘）_微橙的博客-CSDN博客_性能测试要求
五、导电性能测试方法？
应该测试物体的直流电阻的大小，直流电阻越小导电性能越好，直流电阻越大导电性能就差。
物体导电的能力：一般来说金属、半导体、电解质溶液或熔融态电解质和一些非金属都可以导电。非电解质物体导电的能力是由其原子外层自由电子数以及其晶体结构决定的，如金属含有大量的自由电子，就容易导电，而大多数非金属由于自由电子数很少，故不容易导电。
六、元器件电性能测试方法？
元器件的检测是一项必不可少的基础性工作，如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。电子元器件主要有三类检测项目：
1.常规测试主要测试电子元器件的外观、尺寸、电性能、安全性能等；根据元器件的规格书测试基本参数，如三极管，要测试外观、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引脚拉力、引脚弯曲、可焊性、耐焊接热等项目，部分出口产品还要测试RoHS。
2.可靠性测试主要测试电子元器件的寿命和环境试验；根据使用方的要求和规格书的要求测试器件的寿命及各种环境试验，如三极管，要进行高温试验、低温试验、潮态试验、振动试验、最大负载试验、高温耐久性试验等项目的试验；
3.DPA分析主要针对器件的内部结构及工艺进行把控。如三极管，主要手段有X光检测内部结构、声扫监控内部结构及封装工艺、开封监控内部晶圆结构及尺寸等。其中X-Ray实时成像技术应用日渐广泛，由于其具有无损、快速、易用、相对低成本的特点，得到越来越多的电子产品制造商的青睐。X-ray检测可用来检查元器件的内部状态，如芯片排布、引线的排布以及引线框架的设计、焊球（引线）等。对复杂结构的元器件，可以调整X光管的角度、电压、电流以及图像的对比度和亮度，获取有效的图像信息。
七、bms性能评估和测试方法？
一、BMS是什么？
BMS全称BATTERY MANAGEMENT SYSTEM，电池管理系统。BMS是电池与用户之间的纽带，其主要目的是提高电池的利用率，防止电池的过度充电和放电。
二、BMS要实现哪些功能？
一般对电池管理系统BMS而言，需要实现以下几个功能：
对电池组的工作状态的监测与管理——单体和电池组的电压监测、电流监测、温度监测、SOC（荷电状态State of Charge））估算，均衡控制等
对电池组异常状态的管理——单体和电池组的过充、过放、过流、温度超限、失衡等
对电池组故障的管理——传感器丢失、单体故障等
三、BMS测试的必要性及测试方法
BMS是个功能特别复杂的电子设备。在其设计阶段，需要对原型的功能进行验证；在生产阶段，需要对产品的功能进行测试；如果设备出现故障，需要进行检修。在这些阶段都需要有对应的测试设备来支持。
BMS的各项功能涉及到包括数据采集、数据通讯、过程控制等多种技术，需要用ADC、DIO、PWM、CAN、继电器等多种端口和设备，功能和算法都比较复杂。为了对这些复杂的功能进行全面的测试（很多情况还要进行性能测试和评估），目前的测试方法主要有两种：
1、通过实物进行测试：将被管理的电池组实物与BMS对接进行测试。
这种测试方法最直接，所有的测试参数都与实际情况一致，看似比较理想，但是从实际应用上来看还是存在比较多的问题：
测试时间长：电池组的充放电都会需要比较长的时间，在测试循环中需要等待的时间比较长，难以进行批量测试。
需要的辅助设备多：为了模拟各种环境状态，需要大型恒温箱等辅助设备。
调整参数困难：如果用于BMS单项功能的验证和调试，在开始实验之前要通过充电和放电来调整电池组的状态。
可控性差：单体的容量、内阻等重要参数都会受到实物的限定，没有调整空间。受制于电池组装配工艺等多方面因素的影响，无法调整任意一个单体的SOC等运行状态，另外随着循环次数的增加，电池组自身的装填也会发生变化。
存在安全隐患：电池组本身就是一个储存了很大能量的装置，这种测试方法虽测试人员的人身安全存在威胁。
能源消耗大：电池组的充电和放电需要很大的能源。
系统成本高：电池组自身价格比较高，尤其是大功率的电池组，相关的维护费用也比较高。
实际状态未知：最致命的一点。电池组在工作中每个电池单体的电压、温度、均衡电流等参数的设定值是未知的，用户只能获取到相应的测量值，无法进行实际的对比。
综上，这种实物测试的方法只适用于BMS在正常工作范围内的表现，而不适合应用于BMS的开发调试和生产测试。
2、通过仿真电池组进行仿真和验证
通过高精度的程控电池模拟器来仿真电池单体的电压，并具有一定的电流输出和吸收能力，仿真电池组的充电和放电过程。
通过高精度的程控电阻来仿真各种温度传感器。
通过高精度的DAC来仿真电流传感器。
通过故障注入模块模拟电压采样过程中断线等故障。
通过开关板卡控制各路信号的输入、输出。
通过数字IO、DAC、CAN总线通讯模块、程控电源能复制设备实现其它功能端口的仿真以及BMS的通讯。
这种方法基于成熟的计算机技术以及测试仪器硬件平台，能够通过软件快速调整电池组的工作状态，提高测试效率和安全性，扩展方便。如果对多种BMS进行测试的话，成本优势更加明显，非常适合BMS开发以及大批量的生产测试。
八、倍率性能测试的方法？
倍率性能测试有3种形式，包括采用相同倍率恒流恒压充电，并以不同倍率恒流放电测试，表征和评估锂离子电池在不同放电倍率时的性能；或者采用相同的倍率进行恒流放电，并以不同倍率恒流充电测试，表征电池在不同倍率下的充电性能；以及充放电采用相同倍率进行充放电测试。
常采用的充放电倍率有0.02C，0.05C，0.1C，C/3，0.5C，1C，2C，3C，5C和10C等。
九、电池性能测试原理及方法？
在电力系统变电站的直流系统中，常用阀控式密封铅酸蓄电池作为独立直流电源。对220V直流系统，蓄电池个数可取104-108个，对于110 V系统蓄电池个数可取52-53个。对蓄电池组的监控包括了对单个蓄电池的监控。
对蓄电池进行监控有许多实用且可行的技术，如比重、开路电压、加载电压、电量测量、内阻测量等。其中比重、开路电压用来反映蓄电池的充电情况;加载电压 用于反映可用容量;电量测量则用于测量流出或流入) 蓄电池的安时数，它也可看作可用容量的间接反映。
HDGC3915 蓄电池状态测试仪
HDGC3915 蓄电池状态测试仪
目前流行一种用电导测试的方法，它通过检测电池的内阻快速判断电池实际容量。阀控铅酸蓄电池VRLA Value Regulated Lead Acid)的电阻 组成是复杂的，在不同的量测点和不同的时刻测得 的电阻值包含的组成也是不同的。阀控式密封蓄电 池的故障11如板栅腐蚀和增长、接触不良、活性物质 可用量减少等，集中表现于电池内阻的增大、电导 的减小。因此，电导或内阻的大小可反映电池故障 和使用程度的有效信息。
十、PCB板电性能测试方法？
请问是空板测试还是焊好元器件以后的测试？
如果是空板测试的话，按测试原理，可以分为两种，一种是电阻法，一种是电容法。空板测试主要是测pcb板有没有短路和断路。
焊好元器件以后的测试有两种，一种是ict在线测试，主要测试元器件的功能好坏，以及焊接加工中有没有短路，虚焊等故障。另外一种是功能测试，模拟电路板的功能进行上电测试，看板的功能上有没有问题。
